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 SEM像散矫正及分辨率标样

 

SEM像散矫正及分辨率标样

SEM Astigmatism Correction and Resolution Determination

microscopy calibration standard

prickly gold

PELCO®像散矫正标样

PELCO® Astigmatism Corrector

标样图像清晰、对比度高,用于像散和分辨率检查。

 

产品代码

描述

单位

640

PELCO®像散矫正标样,不含样品座

640-A

PELCO®像散矫正标样,含样品座A

640-B

PELCO®像散矫正标样,含样品座B

640-C

PELCO®像散矫正标样,含样品座C

640-D

PELCO®像散矫正标样,含样品座D

640-E

PELCO®像散矫正标样,含样品座E

640-F

PELCO®像散矫正标样,含样品座F

640-G

PELCO®像散矫正标样,含样品座G

640-K

PELCO®像散矫正标样,含样品座K

640-L

PELCO®像散矫正标样,含样品座L

640-M

PELCO®像散矫正标样,含样品座M

640-O

PELCO®像散矫正标样,含样品座O

640-P

PELCO®像散矫正标样,含样品座P

 

低倍校准标尺

Low-Mag Calibration Ruler

校准标尺置于镀Ni的铜片上,长1mm,标有100条线,每刻度0.01 mm,准确度优于+/- 0.0005mm

 

产品编号

描述

单位

 

630

低倍校准标尺,不含样品座

 
 

 

630-A

低倍校准标尺,含样品座A

630-B

低倍校准标尺,含样品座B

630-C

低倍校准标尺,含样品座C

630-D

低倍校准标尺,含样品座D

630-E

低倍校准标尺,含样品座E

630-F

低倍校准标尺,含样品座F

630-G

低倍校准标尺,含样品座G

630-K

低倍校准标尺,含样品座K

630-L

低倍校准标尺,含样品座L

630-M

低倍校准标尺,含样品座M

630-O

低倍校准标尺,含样品座O

 

waffle grating replica

网状栅格标样

Grating Replica, Waffle

网状栅格标样校正的放大倍数范围是80-100,000x。两个方向的线间距均为2160 lines/mm,样品在3mm的铜网上。

 

 

产品编号

描述

单位

604

网状栅格标样,不含样品座

604-A

网状栅格标样,含样品座A

604-B

网状栅格标样,含样品座B

604-C

网状栅格标样,含样品座C

604-D

网状栅格标样,含样品座D

604-E

网状栅格标样,含样品座E

604-F

网状栅格标样,含样品座F

604-G

网状栅格标样,含样品座G

604-K

网状栅格标样,含样品座K

604-L

网状栅格标样,含样品座L

604-M

网状栅格标样,含样品座M

604-O

网状栅格标样,含样品座O

604-P

网状栅格标样,含样品座P

agar copper mesh grids

精细铜网标样

Fine Copper Mesh on Folding Grids (unmounted)

适用于SEM和低倍透射电镜放大倍数校正,也可用于低倍光学显微镜,包含1000目(节距25µm)和2000目(节距12.5µm)两种规格。

 

产品编号

描述

单位

631-A

Agar 1000目铜网标样

631-C

Agar 2000目铜网标样

 

silicon test specimen

单晶硅标样

Silicon Test Specimen

 

用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10µm,线宽1.9µm,通过电子束印刷技术形成。每隔500µm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。

 

随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为1%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。

 

产品编号

描述

单位

 

615

单晶硅标样,不含样品座

 
 

615-A

单晶硅标样,含样品座A

 

615-B

单晶硅标样,含样品座B

 

615-C

单晶硅标样,含样品座C

 

615-D

单晶硅标样,含样品座D

 

615-E

单晶硅标样,含样品座E

 

615-F

单晶硅标样,含样品座F

 

615-G

单晶硅标样,含样品座G

 

615-K

单晶硅标样,含样品座K

 

615-L

单晶硅标样,含样品座L

 

615-M

单晶硅标样,含样品座M

 

615-O

单晶硅标样,含样品座O

 

615-P

单晶硅标样,含样品座P

 

615-5

单晶硅标样,置涂黑的玻璃片上,用于入光显微镜

 


认证的单晶硅标样

产品编号

描述

单位

660-615-A

单晶硅标样,已认证,含样品座A

660-615-B

单晶硅标样,已认证,含样品座B

660-615-C

单晶硅标样,已认证,含样品座C

660-615-D

单晶硅标样,已认证,含样品座D

660-615-E

单晶硅标样,已认证,含样品座E

660-615-F

单晶硅标样,已认证,含样品座F

660-615-G

单晶硅标样,已认证,含样品座G

660-615-K

单晶硅标样,已认证,含样品座K

660-615-L

单晶硅标样,已认证,含样品座L

660-615-M

单晶硅标样,已认证,含样品座M

660-615-O

单晶硅标样,已认证,含样品座O

660-615-P

单晶硅标样,已认证,含样品座P

660-615-5

单晶硅标样,置涂黑的玻璃片上,用于入光显微镜,已认证

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