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 2D全息阵列标样

 

2D Holographic Array Standards

全息阵列标样精细的间距分144nm300nm两种,可在水平方向上对仪器进行高分辨、纳米尺度的校准。

144nm高分辨2D校准标样

适用AFMSTMAugerFIBSEM

144nm Very High Resolution 2D Calibration Standard
for AFM, STM, Auger, FIB, and SEM

  


AFM 图像:

Tapping模式3µm AFM 扫描

Contact模式 5µm AFM 扫描


SEM图像

高倍

拍摄条件:100 kX,加速电压10 kV(内部小图)、20KV(外部大图)


中等倍数

5 kX时,单个圆体仍可清楚分辨。

SEM校准标样, 认证, 不可溯源, 含(或不含)样品座

AFM 校准标样, 认证, 不可溯源, 含样品座

SEM校准标样, 认证, 可溯源, 提供证书,含(或不含)样品座

 

产品代码

描述

单位

16465-2D

144nm校准标样, 认证, 可溯源, 提供证书

 

300nm高分辨2D校准标样

适用AFMSTEMAugerFIBSEM

300nm Pitch High Resolution 2D Calibration Standard
for AFM, STEM, SEM, Auger and FIB.

Very High Resolution 2D Calibration Standard

 

产品代码

描述

单位

16475-2D

300nm校准标样, 认证, 不可溯源

 

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