2D Holographic Array Standards
全息阵列标样精细的间距分144nm和300nm两种，可在水平方向上对仪器进行高分辨、纳米尺度的校准。
适用AFM、STM、Auger、FIB、SEM
144nm Very High Resolution 2D Calibration Standard
for AFM, STM, Auger, FIB, and SEM
AFM 图像:
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Tapping模式3µm AFM 扫描 
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Contact模式 5µm AFM 扫描 
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SEM图像
高倍
拍摄条件：100 kX，加速电压10 kV（内部小图）、20KV（外部大图）
中等倍数
5 kX时，单个圆体仍可清楚分辨。
SEM校准标样, 认证, 不可溯源, 含（或不含）样品座
AFM 校准标样, 认证, 不可溯源, 含样品座
SEM校准标样, 认证, 可溯源, 提供证书，含（或不含）样品座
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产品代码
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描述
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单位
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16465-2D
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144nm校准标样, 认证, 可溯源, 提供证书
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个
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300nm高分辨2D校准标样
适用AFM、STEM、Auger、FIB、SEM
300nm Pitch High Resolution 2D Calibration Standard
for AFM, STEM, SEM, Auger and FIB.
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产品代码
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描述
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单位
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16475-2D
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300nm校准标样, 认证, 不可溯源
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个
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