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 高倍高分辨全息光栅标样

 高倍高分辨全息光栅标样

High Magnification, High Resolution Reference and Calibration Standards for AFM, SEM, Auger and FIB

适用AFM、SEM、Auger和 FIB

精准全息条纹可用于高分辨、纳米尺度上准确校准仪器,具有高稳定性和高适用性特性。中等脊线宽度便于AFM应用。扫描电镜成像时二次电子和背散射电子像反差好。条纹间隔宽度分70、145 、292nm三种。

70nm间距

145nm间距

292nm间距

 

产品代码

描述

单位

641-1AFM

70nm 高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上

641-11AFM

70nm 高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上,可溯源

642-1AFM

145nm高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上

642-1

145nm高分辨 AFM校准标样,不含样品座

643-1AFM

292nm高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上

643-11AFM

292nm高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上,可溯源

 
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