高倍高分辨全息光栅标样
High Magnification, High Resolution Reference and Calibration Standards for AFM, SEM, Auger and FIB
适用AFM、SEM、Auger和 FIB
精准全息条纹可用于高分辨、纳米尺度上准确校准仪器,具有高稳定性和高适用性特性。中等脊线宽度便于AFM应用。扫描电镜成像时二次电子和背散射电子像反差好。条纹间隔宽度分70、145 、292nm三种。
产品代码
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描述
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单位
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641-1AFM
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70nm 高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上
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个
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641-11AFM
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70nm 高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上,可溯源
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个
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642-1AFM
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145nm高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上
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个
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642-1
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145nm高分辨 AFM校准标样,不含样品座
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个
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643-1AFM
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292nm高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上
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个
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643-11AFM
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292nm高分辨 AFM校准标样,于12mm钢圆片上,可溯源
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个
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